发明名称 面结型场效应管
摘要 本发明公开了一种面结型场效应管,其是在面结型场效应管中集成了一个LDMOS。器件夹断电压可通过面结型场效应管的栅极单次或多次注入来调整,电流密度可通过控制沟道宽度来调整。同时,集成的LDMOS提高了面结型场效应管的耐压特性。
申请公布号 CN103681777B 申请公布日期 2016.11.02
申请号 CN201210320108.X 申请日期 2012.08.31
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 苗彬彬;金锋
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L29/808(2006.01)I;H01L27/085(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种面结型场效应管,其特征在于:包含一个面结型场效应管和一个集成在面结型场效应管中的LDMOS:在P型硅衬底上具有N型注入区,水平方向上,N型注入区划分为源区漂移区、沟道区和漏区漂移区;所述面结型场效应管的漏区,是漏区漂移区的一侧的第一重掺杂N型区,第一重掺杂N型区上具有填充金属的接触孔与第一重掺杂N型区相连,将面结型场效应管的漏区引出,且第一重掺杂N型区同时也作为集成的LDMOS的漏区;所述面结型场效应管的源区,是源区漂移区中第二重掺杂N型区,所述源区漂移区位于漏区漂移区相对一侧的N型注入区中,第二重掺杂N型区上具有填充有金属的接触孔与第二重掺杂N型区连接,将面结型场效应管的源区引出;所述面结型场效应管的栅极,为重掺杂P型区,位于沟道区上方的P型注入区中,所述沟道区位于源区漂移区与漏区漂移区之间,沟道区上方的P型注入区中具有相互抵靠接触的重掺杂P型区和第三重掺杂N型区,所述重掺杂P型区上具有填充金属的接触孔与之连接引出,所述第三重掺杂N型区上具有填充金属的接触孔与之接触引出,重掺杂P型区与第二重掺杂N型区之间的硅表面具有源区场氧隔离,所述LDMOS的源区由重掺杂P型区和第三重掺杂N型区共同构成,所述P型注入区作为LDMOS的沟道区;所述第一重掺杂N型区与第三重掺杂N型区之间的硅表面具有漏区场氧隔离及一段氧化膜,漏区场氧下方的N型注入区中有一层P型掺杂区;所述氧化膜位于第三重掺杂N型区与漏区场氧之间的硅表面,氧化膜上及靠近氧化膜的漏区场氧上覆盖一层多晶硅,多晶硅上具有填充金属的接触孔将多晶硅引出,形成所述LDMOS的栅极;漏区场氧靠近第一重掺杂N型区的区域上覆盖一段多晶硅形成漏区场板,并通过填充金属的接触孔引出;整个器件表面淀积层间介质,所述的接触孔全部穿通层间介质将各区域引出;在层间介质表面淀积有金属分别形成整个器件的各个电极,其中重掺杂P型区、第三重掺杂N型区以及靠近第三重掺杂N型区的多晶硅通过接触孔连接同一块金属,第一重掺杂N型区的接触孔与漏区场板的接触孔连接到另一块金属。
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