发明名称 |
用于解析离子源进样装置的举靶顶靶机构 |
摘要 |
本发明公开了一种用于解析离子源进样装置的举靶顶靶机构,包括顶靶机构和举靶机构,举靶机构具有举靶平台,举靶平台在进靶过程中向上托举且在退靶过程中向下回退,顶靶机构具有顶靶部件,顶靶部件在进靶过程中向上顶且在退靶过程中向下回退,举靶机构具有定位杆,顶靶机构具有滑动部件,滑动部件滑动安装在定位杆,顶靶机构固定安装在安装在举靶机构上的托块上;本发明提供的举靶顶靶机构实现了样品能够先进行一种低真空过度,进而再进入高真空的过程,具有操作灵活和便捷的优点。 |
申请公布号 |
CN106066360A |
申请公布日期 |
2016.11.02 |
申请号 |
CN201610405698.4 |
申请日期 |
2016.06.12 |
申请人 |
江苏天瑞仪器股份有限公司 |
发明人 |
刘召贵;徐鹏登;周立 |
分类号 |
G01N27/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/64(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于解析离子源进样装置的举靶顶靶机构,其特征在于,包括顶靶机构和举靶机构;所述举靶机构具有举靶平台,所述举靶平台在进靶过程中向上托举且在退靶过程中向下回退;所述顶靶机构具有顶靶部件,所述顶靶部件在进靶过程中向上顶且在退靶过程中向下回退;所述举靶机构具有定位杆,所述顶靶机构具有滑动部件,所述滑动部件滑动安装在所述定位杆;所述顶靶机构固定安装在所述举靶机构上的托块上。 |
地址 |
215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园 |