一种用于校准模拟集成电路的方法及装置

摘要

本发明涉及一种用于校准模拟集成电路的方法及装置，该方法包括：根据烧写控制信号，存储模拟集成电路的校准信息；根据熔丝检测选通信号，通过检测节点输出所述校准信息以便于进行检测，检测后输出检测结果输出信号；其中，地址选择信号和读使能信号组成所述熔丝检测选通信号，所述地址选择信号和写使能信号组成所述烧写控制信号。本发明中，当需要更改存储单元位数时，只需更改存储单元阵列中的存储单元复用数目，并且在逻辑控制单元代码中增加相应的地址选择控制即可，明显地提高存储电路的设计效率以及模块的稳定性。

主权项

一种用于校准模拟集成电路的装置，其特征在于，所述装置包括存储阵列单元、存储信息监测单元以及逻辑控制单元；其中，所述存储阵列单元根据烧写控制信号，存储模拟集成电路的校准信息；根据熔丝检测选通信号，通过检测节点输出存储的校准信息给所述存储信息监测单元；所述存储信息监测单元根据所述逻辑控制单元的检测使能控制信号，通过所述检测节点对所述校准信息进行检测，并输出检测结果输出信号给所述逻辑控制单元；所述逻辑控制单元通过输出地址选择信号、读使能信号、写使能信号以及检测使能控制信号，来控制所述校准信息的存储和检测；其中，所述地址选择信号和读使能信号组成所述熔丝检测选通信号，所述地址选择信号和所述写使能信号组成所述烧写控制信号，所述地址选择信号选中存储阵列单元中的一个或多个存储单元。