发明名称 高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法
摘要 A photo or heat-sensitive polymer comprising recurring units having polymerizable anion-containing sulfonium salt and phenolic hydroxyl-containing recurring units is useful as a base resin to formulate a resist composition having high sensitivity, high resolution and low LWR.
申请公布号 JP6020347(B2) 申请公布日期 2016.11.02
申请号 JP20130106712 申请日期 2013.05.21
申请人 信越化学工業株式会社 发明人 大橋 正樹;畠山 潤
分类号 C08F220/30;G03F7/004;G03F7/039;H01L21/027 主分类号 C08F220/30
代理机构 代理人
主权项
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