发明名称 用于监测和控制起绉工艺时的片材特征的方法和设备
摘要 本发明体现用于监测和控制起绉工艺的特征的方法和设备。所述方法涉及测量沿起绉的纸片的不同点的光学特性并且将那些测量值转换成特征定义数据。本发明允许测定绉纹结构的幅值和分布以及它们的频率和分布。这允许产生准确的和比所述工业中当前使用的粗糙猜测更可靠的信息。将这一信息馈送至造纸工艺设备可产生造纸中质量和效率的增加。
申请公布号 CN103874919B 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201280050773.X 申请日期 2012.11.05
申请人 纳尔科公司 发明人 W·A·冯德拉塞克;S·L·阿彻;G·S·弗曼
分类号 G01B11/30(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G01N21/86(2006.01)I;G01N21/89(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 宋海宁
主权项 一种测量纸片上的绉纹结构的几何特征的方法,所述方法包括以下步骤:通过针对纸片上的每个位置反复地发射至少两个发射光束并且从所述位置反射所述至少两个发射光束并且进入被构造和安排成吸收和测量所反射的发射光束的强度的传感器中来产生表示纸片上的位置的特征的数据值,通过使用n阶多项式拟合来校正所述数据值以使得经校正的数据值的轮廓的平均值接近零,使用滤波算法进行所述校正的数据值的逐行平滑操作,识别所述平滑的数据值内的正至负转变,以及将所述识别的转变与已知对应于具体几何尺寸的先前识别的值进行相关以确定所述绉纹结构的几何特征。
地址 美国伊利诺斯