发明名称 一种激光测距装置及其激光测距方法
摘要 本发明提供一种基于前沿时刻鉴别技术的激光测距装置及其激光测距方法。该装置包括:光电转换电路,用于将激光信号转换为第一电信号;放大电路,用于将第一电信号进行放大处理并输出第二电信号;第一、第二阈值比较器,用于将第二电信号前沿的电压值分别与第一和第二阈值电压进行实时比较,得到第一和第二触发信号;计时电路,用于获取与第一和第二触发信号相对应的第一和第二时刻;以及处理器,用于根据第一时刻与第二时刻获得激光信号的波形斜率,从而对测距值进行补偿。本发明通过多阈值前沿时刻鉴别技术得到多个粗略测距值,处理器调用算法计算波形斜率关系,得出精度较高的测距值的同时还获得目标物体的反射率。
申请公布号 CN106054205A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201610638159.5 申请日期 2016.08.05
申请人 上海思岚科技有限公司 发明人 张扬;刘健;徐磁;陈士凯;李宇翔;林凌;刘义春;黄珏珅
分类号 G01S17/08(2006.01)I 主分类号 G01S17/08(2006.01)I
代理机构 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人 甘章乖;马育麟
主权项 一种基于前沿时刻鉴别技术的激光测距装置,其特征在于,所述激光测距装置包括:光电转换电路,用于将所接收的激光信号转换为第一电信号;放大电路,电性耦接至所述光电转换电路,用于将所述第一电信号进行放大处理,并输出第二电信号,所述第二电信号依次具有一前沿期间以及一后沿期间;第一阈值比较器,电性耦接至所述放大电路,用于将所述第二电信号前沿的电压值与一第一阈值电压进行实时比较,得到一第一触发信号;第二阈值比较器,电性耦接至所述放大电路,用于将所述第二电信号前沿的电压值与一第二阈值电压进行实时比较,得到一第二触发信号,该第二阈值电压大于该第一阈值电压;计时电路,电性耦接至所述第一阈值比较器和所述第二阈值比较器,用于获取与所述第一触发信号和所述第二触发信号相对应的第一时刻和第二时刻;以及处理器,用于接收并处理所述第一时刻和所述第二时刻,并根据所述第二时刻与所述第一时刻获得所述激光信号的波形斜率,从而利用所述波形斜率对激光测距值进行补偿。
地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19405B室
您可能感兴趣的专利