发明名称 半導体基板のエッチング方法及び半導体素子の製造方法
摘要 An etching method containing, at the time of processing a substrate having a first layer containing titanium nitride (TiN) and a second layer containing a transition metal, selecting a substrate in which a surface oxygen content of the first layer is from 0.1 to 10% by mole, and applying an etching liquid containing a hydrofluoric acid compound and an oxidizing agent to the substrate and thereby removing the first layer.
申请公布号 JP6017273(B2) 申请公布日期 2016.10.26
申请号 JP20120250364 申请日期 2012.11.14
申请人 富士フイルム株式会社 发明人 室 祐継;上村 哲也;稲葉 正;水谷 篤史
分类号 H01L21/306;H01L21/308 主分类号 H01L21/306
代理机构 代理人
主权项
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