发明名称 触摸装置检测方法及触摸装置
摘要 公开了一种触摸装置检测方法,触摸装置包括M条通道和控制模块,其中,M为大于等于2的整数,包括:将M条通道中相邻的2<sup>k</sup>条通道分为一组,其中,k=1;将划分后的每组通道的其中相邻的2<sup>k‑1</sup>条的通道接地或者固定电平;向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;将k递增之后,重复以上步骤直至2<sup>k</sup>≥M。本发明还提供一种触摸装置,能够快速检测任意通道之间是否存在短路,解决了现有的触摸屏缺陷检测技术存在的只能检测相邻通道的短路、扩展性差、检测覆盖面低的技术缺陷。
申请公布号 CN106054013A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201610341839.0 申请日期 2016.05.20
申请人 北京集创北方科技股份有限公司 发明人 章军富;曲孔宁
分类号 G01R31/02(2006.01)I;G06F3/041(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人 蔡纯;张靖琳
主权项 一种触摸装置检测方法,触摸装置包括M条通道和控制模块,其中,M为大于等于2的整数,其特征在于,包括:将M条通道中相邻的2<sup>k</sup>条通道分为一组,其中,k=1;将划分后的每组通道的其中相邻的2<sup>k‑1</sup>条的通道接地或者固定电平;向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;将k递增之后,重复以上步骤直至2<sup>k</sup>≥M。
地址 100088 北京市海淀区北三环中路31号4号楼13层1304-1306