| 发明名称 | 一种基板及其磨边检测方法、对位方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种基板及其磨边检测方法、对位方法和装置，该基板包括衬底基板以及设置在所述衬底基板上的至少一个磨边检测图形，所述磨边检测图形设置于所述衬底基板的边缘，所述磨边检测图形采用导电材料制成。由于在基板的边缘设置磨边检测图形，且该磨边检测图形采用导电材料制成，当对基板进行磨边后，可以通过检测磨边检测图形的电阻，来确定磨边检测图形被磨损的程度，从而确定基板被磨损的程度，该种检测方式与现有技术相比更准确，且实现方法简单，成本较低。 | ||
| 申请公布号 | CN106041667A | 申请公布日期 | 2016.10.26 |
| 申请号 | CN201610342023.X | 申请日期 | 2016.05.20 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 | 发明人 | 王强;刘利宾 |
| 分类号 | B24B9/10(2006.01)I;B24B49/10(2006.01)I;B24B49/04(2006.01)I;G01D21/00(2006.01)I | 主分类号 | B24B9/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 黄灿;胡影 |
| 主权项 | 一种基板，其特征在于，包括衬底基板以及设置在所述衬底基板上的至少一个磨边检测图形，所述磨边检测图形设置于所述衬底基板的边缘，所述磨边检测图形采用导电材料制成。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||