发明名称 用于CMOS的双轴向拉伸应变的Ge沟道
摘要 一种装置,包括:互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器,该反相器包括n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET);以及p沟道MOSFET,其中,n沟道MOSFET中的沟道的材料和p沟道MOSFET中的沟道的材料经受双轴向拉伸应变。一种方法,包括:形成n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET);形成p沟道MOSFET;以及连接n沟道MOSFET和p沟道MOSFET的栅极电极,并且连接n沟道MOSFET和p沟道MOSFET的漏极区,其中,n沟道MOSFET中的沟道的材料和p沟道MOSFET中的沟道的材料经受双轴向拉伸应变。
申请公布号 CN106062953A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201380081249.3 申请日期 2013.12.27
申请人 英特尔公司 发明人 P·马吉;N·慕克吉;R·皮拉里塞;W·拉赫马迪;R·S·周
分类号 H01L27/092(2006.01)I;H01L21/8238(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I 主分类号 H01L27/092(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈松涛;韩宏
主权项 一种装置,包括:互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器,所述CMOS反相器包括n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)和p沟道MOSFET,其中,所述n沟道MOSFET中的沟道的材料和所述p沟道MOSFET中的沟道的材料均经受双轴向拉伸应变。
地址 美国加利福尼亚