发明名称 基于能量陷阱法的气溶胶颗粒采样检测方法与装置
摘要 本发明公开了一种气溶胶颗粒采样检测装置与方法,用于对一定量的气溶胶中的气溶胶颗粒进行采样和检测。本发明的采样检测装置包括激光器、空间光调制器和检测腔体;激光器发射激光到空间光调制器(4)上;空间光调制器对激光进行调制后输出到所述检测腔体中;检测腔体(8)容纳有气溶胶,入射到该检测腔体中的激光在其中形成一个空间光能量陷阱场;空间光能量陷阱场包括多个光瓶,所述光瓶是一种周围为亮区、中心为暗区的空间瓶状结构,光瓶能够选择性的将尺寸与光瓶同一尺寸量级的气溶胶颗粒束缚于其中。本发明结构简单、携带方便,检测尺寸范围广,可实现对不同大小气溶胶颗粒的实时测定。
申请公布号 CN103698153B 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201210366305.5 申请日期 2012.09.27
申请人 南京中迅微传感技术有限公司 发明人 张青川;张志刚;刘丰瑞;刘爽;程腾;张勇;伍小平
分类号 G01N1/10(2006.01)I;G01N15/14(2006.01)I 主分类号 G01N1/10(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种气溶胶颗粒采样检测装置,用于对一定量的气溶胶中的气溶胶颗粒进行采样和检测,其特征在于,所述采样检测装置包括激光器(1)、空间光调制器(4)和检测腔体(8);所述激光器(1)用于发射激光到空间光调制器(4)上;所述空间光调制器(4)对激光进行调制后输出到所述检测腔体(8)中;所述检测腔体(8)容纳有气溶胶,入射到该检测腔体(8)中的激光在其中形成一个空间光能量陷阱场,所述空间光能量陷阱为周围亮区,中心暗区的光场,当气溶胶颗粒进入所述空间光能量陷阱区域时,受光照射一面吸光温度升高,与该面相接触的气体分子的温度也相应升高,使得整个气溶胶颗粒被推到暗区;其中,所述空间光能量陷阱场包括多个光瓶,所述光瓶能够选择性的将尺寸与光瓶同一尺寸量级的气溶胶颗粒束缚于其中;通过改变所述空间光调制器(4)的写入信号,从而改变所述光能量陷阱场的光瓶的尺寸,实现了对不同尺寸区间的气溶胶颗粒的束缚,并且实现了检测确定上下限的尺寸区间的气溶胶颗粒的浓度;所述空间光能量陷阱场的结构是一个空间散班场或者是一种空间光晶格结构。
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