发明名称 CIRCUIT FOR MEASURING FLICKER NOISE AND METHOD OF USING THE SAME
摘要 플리커 노이즈 측정 회로는 제1 섹션을 포함한다. 제1 섹션은 직렬로 연결되는 복수의 제1 스테이지를 포함한다. 제1 섹션은 복수의 제1 스테이지의 출력값을 복수의 제1 스테이지의 입력값으로 선택적으로 피드백하도록 구성되는 제1 피드백 스위칭 요소를 포함한다. 제1 섹션은 제1 섹션 연결 스위칭 요소를 포함한다. 플리커 노이즈 측정 회로는 제1 섹션에 연결되는 제2 섹션을 포함한다. 제2 섹션은 직렬로 연결되는 복수의 제2 스테이지를 포함하며, 상기 제1 섹션 연결 스위칭 요소는 복수의 제2 스테이지를 복수의 제1 스테이지에 선택적으로 연결하도록 구성된다. 제2 섹션은 복수의 제2 스테이지의 출력값을 복수의 제1 스테이지의 입력값으로 선택적으로 피드백하도록 구성되는 제2 피드백 스위칭 요소를 포함한다.
申请公布号 KR20160123958(A) 申请公布日期 2016.10.26
申请号 KR20150163422 申请日期 2015.11.20
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 LI CHAO CHIEH;SHEEN RUEY BIN
分类号 G01R29/26;G01R19/00;G01R23/02;G01R23/20;G01R27/08 主分类号 G01R29/26
代理机构 代理人
主权项
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