发明名称 |
一种对勘探测井的电容率频散测量方法和应用方法 |
摘要 |
一种针对油气田测井、地下水资源勘探、导电金属矿物勘探中使用的电容率频散测量方法及应用方法,测量方法是向被测大地或井下地层A、B两点之间供给不低于两个频率的交变电流,获取不低于两个频率的无功电流Ix或容抗X<sub>C</sub>或电容C或离子电容率ε。应用方法是,采用新公式计算获得频散度Fd,以Fd高异常识别地下水资源,以Fd低异常且离子电容率为低值显示含油气,以Fd低异常且离子电容率为高值显示导电金属矿藏,在测井工程中采用公式<img file="DSA00000884846300011.GIF" wi="241" he="129" />计算含水饱和度。本发明的有益效果及优点是:提供了一种直观显示资源类型的勘探测井方法,能够提高地下水资源、导电金属矿藏和油气资源的勘探成效。 |
申请公布号 |
CN104122593B |
申请公布日期 |
2016.10.19 |
申请号 |
CN201310149092.5 |
申请日期 |
2013.04.26 |
申请人 |
邓友明 |
发明人 |
曾玉婷;鲜地;邓友明 |
分类号 |
G01V3/18(2006.01)I;G01V3/24(2006.01)I;G01N27/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01V3/18(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种针对勘探测井的电容率频散测量方法,其特征是向被测量的大地或井下地层A、B两点之间,以扫频方式或组合波形方式在0Hz至10KHz频率区间内,供给不低于两个频率的交变电流,按照常规方法中选用任意一种方式测量获取大地或井下地层的不低于两个频率的无功电流Ix或不低于两个频率的容抗X<sub>C</sub>或不低于两个频率的电容C,或不低于两个频率离子电容率<img file="FSB0000156308840000011.GIF" wi="60" he="47" />采用公式:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>F</mi><mi>d</mi><mo>=</mo><msub><mi>log</mi><mfrac><msub><mi>f</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>f</mi><mn>2</mn></msub></mfrac></msub><mrow><mo>(</mo><mfrac><msub><mi>c</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>c</mi><mn>2</mn></msub></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FSB0000156308840000012.GIF" wi="323" he="187" /></maths>计算获得电容率频散度,公式中,Fd为电容率频散度,f<sub>1</sub>为第一测量频率,f<sub>2</sub>为第二测量频率,c<sub>1</sub>为第一测量频率条件下的电容或离子电容率或容抗或无功电流,c<sub>2</sub>为第二测量频率条件下的电容或离子电容率或容抗或无功电流,c<sub>1</sub>、c<sub>2</sub>必须满足同时是电容或离子电容率或容抗或无功电流。 |
地址 |
610500 四川省成都市新都区新都大道8号西南石油大学资环院测井教研室 |