发明名称 |
Method of forming fine patterns |
摘要 |
화학증폭형 레지스트층(layer of chemically amplified resist)의 제1영역들에 산(acid)들을 발생시키도록 노광하고 제1현상하여 레지스트 제1패턴들을 형성하고, 레지스트 제1패턴들의 측벽 부분들에 잔존하는 산들을 내측으로 확산(diffusion)하여 산들이 확산된 제2영역들 및 산들이 확산되지 못한 제3영역들을 형성하고, 제3영역들을 제2현상하여 레지스트 제2패턴들을 패터닝하는 미세 패턴 형성 방법을 제시한다. |
申请公布号 |
KR20160121059(A) |
申请公布日期 |
2016.10.19 |
申请号 |
KR20150050478 |
申请日期 |
2015.04.09 |
申请人 |
SK HYNIX INC. |
发明人 |
KIM, HAK JOON;KIM, BO HYE;LEE, JOON SEUK;LIM, YONG HYUN;IM, JI YOUNG |
分类号 |
H01L21/027;G03F7/20;G03F9/00 |
主分类号 |
H01L21/027 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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