发明名称 Method of forming fine patterns
摘要 화학증폭형 레지스트층(layer of chemically amplified resist)의 제1영역들에 산(acid)들을 발생시키도록 노광하고 제1현상하여 레지스트 제1패턴들을 형성하고, 레지스트 제1패턴들의 측벽 부분들에 잔존하는 산들을 내측으로 확산(diffusion)하여 산들이 확산된 제2영역들 및 산들이 확산되지 못한 제3영역들을 형성하고, 제3영역들을 제2현상하여 레지스트 제2패턴들을 패터닝하는 미세 패턴 형성 방법을 제시한다.
申请公布号 KR20160121059(A) 申请公布日期 2016.10.19
申请号 KR20150050478 申请日期 2015.04.09
申请人 SK HYNIX INC. 发明人 KIM, HAK JOON;KIM, BO HYE;LEE, JOON SEUK;LIM, YONG HYUN;IM, JI YOUNG
分类号 H01L21/027;G03F7/20;G03F9/00 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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