发明名称 一种用于移除MEMS芯片Cap的移除装置
摘要 一种用于移除MEMS芯片Cap的移除装置,MEMS芯片包括位于其底部的基板、设置在基板上的MEMS元件和ASIC以及通过黏合剂粘合到基板上的MEMS Cap,其中,MEMS元件和ASIC位于基板和MEMS Cap之间,移除装置包括加热器和吹风器,加热器置于吹风器的吹风口位置,通过吹风器的吹风将所述加热器的加热温度传输至MEMS芯片的黏合剂位置。本实用新型通过加热与风力相结合的方式,来热熔用于粘合MEMS Cap和基板的黏合剂,进而使得MEMS芯片在移除Cap的过程中不接触腐蚀性化学试剂且不产生机械碰撞,有效防止了MEMS元件的损伤,提高了MEMS芯片样品的良率及后期分析的准确性。
申请公布号 CN205634875U 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201620518693.8 申请日期 2016.05.31
申请人 深圳宜特检测技术有限公司 发明人 原岩峰;蔡甦谷
分类号 B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 深圳市诺正联合知识产权代理有限公司 44368 代理人 李永华;张广兴
主权项 一种用于移除MEMS芯片Cap的移除装置,所述MEMS芯片包括位于其底部的基板、设置在所述基板上的MEMS元件和ASIC以及通过黏合剂粘合到所述基板上的MEMS Cap,其中,所述MEMS元件和ASIC位于所述基板和MEMS Cap之间,其特征在于,所述移除装置包括加热器和吹风器,所述加热器置于所述吹风器的吹风口位置,通过吹风器的吹风将所述加热器的加热温度传输至MEMS芯片的黏合剂位置,所述加热器的加热温度的范围为500度至600度。
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