发明名称 |
一种JAVA卡上原子性测试方法及装置 |
摘要 |
本发明提出一种JAVA卡上原子性测试方法及装置,该方法为:应用断电读卡器,在测试命令的执行过程中进行断电,根据断电后卡片所处的状态,判断测试命令是否具有原子性。首先量取测试命令的完整执行时间,并列出测试命令允许的断电后的卡状态;然后按照读卡器所能提供的步长,对该测试命令进行时间递增的断电;断电后对卡状态进行检查,与所列状态不符则测试结束,相符则增加一个步长继续断电。该方法能够对测试命令的全部执行过程进行断电,解决了测试命令写内存时间范围不能准确定位,并且次数较多,传统的断电测试方法不适用于JAVA卡的问题,提高了测试效率和测试覆盖率。 |
申请公布号 |
CN106021088A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201510404187.6 |
申请日期 |
2015.07.10 |
申请人 |
北京中电华大电子设计有限责任公司 |
发明人 |
仲倩黎 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种JAVA卡上原子性测试方法,其特征在于,该方法包括:确定断电时间范围,确定卡片原子性状态;在断电时间范围内,对JAVA卡进行断电测试。 |
地址 |
102209 北京市昌平区北七家未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋 |