发明名称 一种JAVA卡上原子性测试方法及装置
摘要 本发明提出一种JAVA卡上原子性测试方法及装置,该方法为:应用断电读卡器,在测试命令的执行过程中进行断电,根据断电后卡片所处的状态,判断测试命令是否具有原子性。首先量取测试命令的完整执行时间,并列出测试命令允许的断电后的卡状态;然后按照读卡器所能提供的步长,对该测试命令进行时间递增的断电;断电后对卡状态进行检查,与所列状态不符则测试结束,相符则增加一个步长继续断电。该方法能够对测试命令的全部执行过程进行断电,解决了测试命令写内存时间范围不能准确定位,并且次数较多,传统的断电测试方法不适用于JAVA卡的问题,提高了测试效率和测试覆盖率。
申请公布号 CN106021088A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201510404187.6 申请日期 2015.07.10
申请人 北京中电华大电子设计有限责任公司 发明人 仲倩黎
分类号 G06F11/36(2006.01)I 主分类号 G06F11/36(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种JAVA卡上原子性测试方法,其特征在于,该方法包括:确定断电时间范围,确定卡片原子性状态;在断电时间范围内,对JAVA卡进行断电测试。
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