发明名称 |
测试电路 |
摘要 |
本发明公开了一种测试电路,其包括:信号产生模块用于生成与所述数据线对应的测试数据信号;控制模块用于在所述测试电路处于工作状态时,控制所述测试数据信号的输出;静电抑制模块,与所述第一静电控制端、所述第二静电控制端、所述控制模块以及所述信号产生模块连接,所述静电抑制模块用于在所述测试电路处于非工作状态时,阻止所述数据输出端输出。本发明的测试电路,避免了静电对显示画面的影响,提高了显示效果。 |
申请公布号 |
CN106019115A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201610549964.0 |
申请日期 |
2016.07.13 |
申请人 |
武汉华星光电技术有限公司 |
发明人 |
马亮;赵莽 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
黄威 |
主权项 |
一种测试电路,其特征在于,包括:其中所述测试电路用于对显示区域的薄膜晶体管进行检测;所述显示区域包括n条数据线,其中n大于等于2;测试公共信号输入端、测试时钟信号输入端、测试控制端、n个数据输出端、第一静电控制端、第二静电控制端;所述数据输出端用于向对应的所述数据线输入测试数据信号;所述数据输出端与所述数据线一一对应;所述测试电路还包括:信号产生模块,分别与所述测试公共信号输入端、所述测试时钟信号输入端连接;所述信号产生模块用于生成与所述数据线对应的测试数据信号;控制模块,分别与所述测试控制端以及n个数据输出端连接,所述控制模块用于在所述测试电路处于工作状态时,控制所述测试数据信号的输出;静电抑制模块,与所述第一静电控制端、所述第二静电控制端、所述控制模块以及所述信号产生模块连接,所述静电抑制模块用于在所述测试电路处于非工作状态时,阻止所述数据输出端输出。 |
地址 |
430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 |