发明名称 一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法
摘要 本发明涉及基磁制冷材料检测技术领域,公开了一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法,包括以下步骤:对若干杂相含量在3%‑12%的LaFeSi基磁制冷材料样品进行XRD检测,筛选出杂相含量为3%、6%、9%和12%的样品,获取并制造质量为X1、X2、X3、X4的标准永磁体检测块,制定杂相含量评估表,取待检测的LaFeSi基磁制冷材料固定在升降杆上,依次与质量分别为X1、X2、X3、X4的四块标准永磁体检测块接触,根据永磁体检测块是否被LaFeSi基磁制冷吸引来评估杂相含量。本发明具有能快速、高效、直观的评估LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量的有益效果。
申请公布号 CN106018448A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610320928.7 申请日期 2016.05.16
申请人 横店集团东磁股份有限公司 发明人 孙永阳;王占洲;郝忠彬;章晓峰;洪群峰;韩相华
分类号 G01N23/20(2006.01)I;G01N27/72(2006.01)I 主分类号 G01N23/20(2006.01)I
代理机构 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人 尉伟敏;郑新军
主权项 一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法,其特征是,包括以下步骤:a、取若干杂相含量在3%‑12%的LaFeSi基磁制冷材料样品,对样品进行XRD检测,根据检测结果估算出每个样品中的杂相含量,在测量后的样品中筛选出杂相含量为3%的样品A、杂相含量为6%的样品B、杂相含量为9%的样品C、杂相含量为12%的样品,取若干表磁强度为T的永磁体,永磁体的质量构成公差为N的等差数列;b、将样品A固定在升降杆的下端,从小到大依次将永磁体置于样品A正下方的工作台上,控制升降杆下降使得样品A与永磁体接触,然后再控制升降杆匀速上升,当前一块永磁体被样品A吸附上升、后一块永磁体不能被样品A吸附上升时,将这两块永磁体标记为A1、A2;重复上述步骤获得与样品B对应的永磁体B1、B2,与样品C对应的永磁体C1、C2,与样品D对应的永磁体D1、D2;c、取永磁铁氧体A1、A2质量的平均值X1,取永磁体B1、B2质量的平均值X2,取永磁体C1、C2质量的平均值X3,取永磁体D1、D2质量的平均值X4,将样品A、B、C、D的杂相含量与对应的X1、X2、X3、X4的数值记录在表格中制成杂相含量评估表;d、制备表磁强度为T且质量分别为X1、X2、X3、X4的标准永磁体检测块;e、取一小块待检测的LaFeSi基磁制冷材料固定在升降杆上,依次与质量分别为X1、X2、X3、X4的四块标准永磁体检测块接触,根据永磁体检测块是否被LaFeSi基磁制冷吸引来评估杂相的含量范围。
地址 322118 浙江省金华市东阳市横店工业区