| 发明名称 | 一种接收机芯片的测试方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种接收机芯片的测试方法和装置，包括：标准芯片根据第一测试项向待测芯片发射测试速率下的信号；所述标准芯片接收所述待测芯片反馈的误码率BER，并且当所述BER高于预设阈值时，判断为第一测试项测试通过。根据本发明提供的接收机芯片的测试方法和装置，利用芯片发射和接收待测芯片的信号并进行解析，从而取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。 | ||
| 申请公布号 | CN106027172A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
| 申请号 | CN201610251279.X | 申请日期 | 2016.04.22 |
| 申请人 | 北京联盛德微电子有限责任公司 | 发明人 | 梅张雄;程晟 |
| 分类号 | H04B17/29(2015.01)I;H04L1/20(2006.01)I | 主分类号 | H04B17/29(2015.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种接收机芯片的测试方法，其特征在于，包括：标准芯片根据第一测试项向待测芯片发射测试速率下的信号；所述标准芯片接收所述待测芯片反馈的误码率BER，并且当所述BER高于预设阈值时，判断为第一测试项测试通过。 | ||
| 地址 | 100044 北京市海淀区上园村3号交大知行大厦七层 | ||