发明名称 基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法及外延片和激光器
摘要 一种基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法及外延片和激光器,该方法包括:通过紫外纳米压印工艺,在外延片表面涂覆的光刻胶上压印出光栅图形;将压印好的外延片送入电感耦合等离子体(ICP)设备的反应腔室中进行一次刻蚀,反应气体为CH<sub>4</sub>/H<sub>2</sub>/Ar;将完成一次刻蚀的外延片送入反应腔室进行二次刻蚀,反应气体为CH<sub>4</sub>/H<sub>2</sub>/Ar。本发明采用二次刻蚀方法即连续两次对GaInP光栅进行干法刻蚀,通过调整优化刻蚀的气体流量比、腔室压强和刻蚀时间等参数,可以得到优良的光栅形貌。
申请公布号 CN106025795A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610550299.7 申请日期 2016.07.13
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 王海丽;赵懿昊;张奇;王文知;仲莉;刘素平;马骁宇
分类号 H01S5/12(2006.01)I 主分类号 H01S5/12(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 任岩
主权项 一种基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:准备一外延片;步骤2:通过纳米压印技术,将压印模板上的纳米图案转移到所述外延片表面涂覆的光刻胶上,制作出光栅图形;步骤3:将所述压印好光栅图形的外延片送入ICP反应腔室进行一次刻蚀;步骤4:将所述一次刻蚀完成的外延片送入ICP反应腔室进行二次刻蚀,在所述外延片的GaInP层上刻蚀形成光栅图形;步骤5:使用氧等离子体对所述外延片表面进行处理,完成整个刻蚀过程。
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