发明名称 |
基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法及外延片和激光器 |
摘要 |
一种基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法及外延片和激光器,该方法包括:通过紫外纳米压印工艺,在外延片表面涂覆的光刻胶上压印出光栅图形;将压印好的外延片送入电感耦合等离子体(ICP)设备的反应腔室中进行一次刻蚀,反应气体为CH<sub>4</sub>/H<sub>2</sub>/Ar;将完成一次刻蚀的外延片送入反应腔室进行二次刻蚀,反应气体为CH<sub>4</sub>/H<sub>2</sub>/Ar。本发明采用二次刻蚀方法即连续两次对GaInP光栅进行干法刻蚀,通过调整优化刻蚀的气体流量比、腔室压强和刻蚀时间等参数,可以得到优良的光栅形貌。 |
申请公布号 |
CN106025795A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201610550299.7 |
申请日期 |
2016.07.13 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
王海丽;赵懿昊;张奇;王文知;仲莉;刘素平;马骁宇 |
分类号 |
H01S5/12(2006.01)I |
主分类号 |
H01S5/12(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种基于纳米压印光栅的二次干法刻蚀方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:准备一外延片;步骤2:通过纳米压印技术,将压印模板上的纳米图案转移到所述外延片表面涂覆的光刻胶上,制作出光栅图形;步骤3:将所述压印好光栅图形的外延片送入ICP反应腔室进行一次刻蚀;步骤4:将所述一次刻蚀完成的外延片送入ICP反应腔室进行二次刻蚀,在所述外延片的GaInP层上刻蚀形成光栅图形;步骤5:使用氧等离子体对所述外延片表面进行处理,完成整个刻蚀过程。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |