发明名称 一种用于校准无源互调测试系统相位的方法
摘要 本发明公开了一种用于校准无源互调测试系统相位的方法。在无源互调测试系统中,使用磁性材料垫片作为校准件进行测量,用两路相干信号源通过注入端口输入到磁性材料垫片中产生无源互调信号,通过测试电路或测试仪器测量注入端口获得一系列合成源互调信号的幅度和相位;使用获得带有校准件的相位信息对待测器件的相位信息进行校准,测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息。本发明方法可准确测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息,以便应用于无源互调性质,无源互调定位等方面的研究。
申请公布号 CN106019192A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610326248.6 申请日期 2016.05.16
申请人 浙江大学;西安空间无线电技术研究所 发明人 张美;郑川;陈翔;崔万照;皇甫江涛;冉立新
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 林超
主权项 一种用于校准无源互调测试系统相位的方法,其特征在于1)在无源互调测试系统中,使用磁性材料垫片作为校准件进行测量,用两路相干信号源通过注入端口输入到磁性材料垫片中产生一个或多个无源互调信号,无源互调信号在注入端口叠加形成一个合成无源互调信号,扫描其中一路相干信号,通过测试电路或测试仪器测量获得带有磁性材料垫片的一系列合成源互调信号的幅度和相位;2)取走磁性材料垫片,将待测器件接入无源互调测试系统中,用两路相干信号源通过注入端口输入到待测器件中产生一个或多个无源互调信号,无源互调信号在注入端口叠加形成一个合成无源互调信号,扫描其中一路相干信号,通过测试电路或测试仪器测量获得待测器件的一系列合成源互调信号的幅度和相位;3)使用步骤1)获得带有校准件的相位信息对待测器件的相位信息进行校准,测量出待测器件基于扫频间隔相对于注入端口的相位信息。
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