发明名称 | EEPROM的测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种EEPROM的测试方法,包括以下步骤:S<sub>1</sub>、对0地址写入0xAA,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xAA,若否则测试不合格;S<sub>2</sub>、对0地址写入0x55,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格;S<sub>3</sub>、依次读取从0地址至N地址的数据,其中N为期望的EEPROM的字节容量;S<sub>4</sub>、判断N地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格;S<sub>5</sub>、对0地址写入0xFF,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xFF,若否则测试不合格,若是测试合格。本发明能在批量测试同容量EEPROM时及时发现混入的其他容量的EEPROM。 | ||
申请公布号 | CN106024067A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
申请号 | CN201610364123.2 | 申请日期 | 2016.05.27 |
申请人 | 上海贝岭股份有限公司 | 发明人 | 聂纪平;何军 |
分类号 | G11C29/18(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/18(2006.01)I |
代理机构 | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人 | 薛琦;王聪 |
主权项 | 一种EEPROM的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S<sub>1</sub>、对0地址写入0xAA,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xAA,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>2</sub>;S<sub>2</sub>、对0地址写入0x55,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>3</sub>;S<sub>3</sub>、依次读取从0地址至N地址的数据,其中N为期望的EEPROM的字节容量;S<sub>4</sub>、判断N地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>5</sub>;S<sub>5</sub>、对0地址写入0xFF,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xFF,若否则测试不合格,若是测试合格。 | ||
地址 | 200233 上海市徐汇区宜山路810号 |