发明名称 EEPROM的测试方法
摘要 本发明公开了一种EEPROM的测试方法,包括以下步骤:S<sub>1</sub>、对0地址写入0xAA,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xAA,若否则测试不合格;S<sub>2</sub>、对0地址写入0x55,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格;S<sub>3</sub>、依次读取从0地址至N地址的数据,其中N为期望的EEPROM的字节容量;S<sub>4</sub>、判断N地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格;S<sub>5</sub>、对0地址写入0xFF,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xFF,若否则测试不合格,若是测试合格。本发明能在批量测试同容量EEPROM时及时发现混入的其他容量的EEPROM。
申请公布号 CN106024067A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610364123.2 申请日期 2016.05.27
申请人 上海贝岭股份有限公司 发明人 聂纪平;何军
分类号 G11C29/18(2006.01)I 主分类号 G11C29/18(2006.01)I
代理机构 上海弼兴律师事务所 31283 代理人 薛琦;王聪
主权项 一种EEPROM的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S<sub>1</sub>、对0地址写入0xAA,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xAA,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>2</sub>;S<sub>2</sub>、对0地址写入0x55,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>3</sub>;S<sub>3</sub>、依次读取从0地址至N地址的数据,其中N为期望的EEPROM的字节容量;S<sub>4</sub>、判断N地址读出的数据是否为0x55,若否则测试不合格,若是则执行步骤S<sub>5</sub>;S<sub>5</sub>、对0地址写入0xFF,读取0地址的数据,判断0地址读出的数据是否为0xFF,若否则测试不合格,若是测试合格。
地址 200233 上海市徐汇区宜山路810号