发明名称 |
微波暗室内三维姿态定位方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种微波暗室内三维姿态定位方法及系统,包括:利用激光跟踪仪确定微波暗室的基准点;以基准点为原点,铅垂向上方向为Z轴正向,预设方向为Y轴正向建立直角坐标系;在Z轴正向与顶端交点处放置竖直线激光发射器,在X轴正向与侧面交点处放置水平线激光发射器;确定地面特征点,调整竖直线激光发射器,使其发射光投影经过地面特征点,将该投影标记为竖直定位线;利用地面特征点调整水平线激光发射器,获取其发射光的侧面投影,将该投影标记为水平定位线;通过竖直定位线与水平定位线对目标的三维姿态进行定位。本发明能够实现目标在横滚、俯仰、偏航三个维度的精确定位。 |
申请公布号 |
CN106017433A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201610365295.1 |
申请日期 |
2016.05.27 |
申请人 |
北京环境特性研究所 |
发明人 |
吕鸣;孔德旺;莫崇江;李光天 |
分类号 |
G01C15/00(2006.01)I;G01S7/41(2006.01)I |
主分类号 |
G01C15/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 |
代理人 |
黄启行;张璐 |
主权项 |
一种微波暗室内三维姿态定位方法,其特征在于,包括步骤:S1.根据预设的基准点选取规则,利用激光跟踪仪确定微波暗室的基准点;S2.以基准点为原点,基准点铅垂向上方向为Z轴正向,根据预设的纵轴选取规则确定的方向为Y轴正向建立三维直角坐标系;S3.将Z轴正向与微波暗室顶端的交点标记为竖直参考点,将X轴正向与微波暗室侧面的交点标记为水平参考点;在竖直参考点设置竖直十字线激光发射器,在水平参考点设置水平十字线激光发射器;S4.在微波暗室地面确定地面特征点,调整竖直十字线激光发射器,使其发射的激光十字线在地面的投影经过地面特征点,将该投影标记为竖直定位线;利用地面特征点调整水平十字线激光发射器,获取其发射的激光十字线在处于X轴负向的微波暗室侧面的投影,将该投影标记为水平定位线;S5.通过竖直定位线与水平定位线对目标的三维姿态进行定位。 |
地址 |
100854 北京市海淀区永定路50号 |