三维金属增强荧光/比色双模纸芯片的制备及ATP检测

摘要

本发明公开了一种三维金属增强荧光/比色双模纸芯片的制备及利用所述的荧光/比色双模传感器测定ATP的方法。利用蜡打印技术在纸芯片上制备疏水区域、亲水区域以及中空通道，通过激光切割机切割中空通道。在1工作区域生长金银纳米星，进而固定荧光信号物质，随后滴加荧光淬灭剂，通过荧光信号“关‑开”，从而实现ATP高灵敏的荧光测定。将制备好的纸芯片折叠，在反应区域滴加过氧化氢，从而实现ATP可视化比色测定。

主权项

三维金属增强荧光/比色双模纸芯片的制备及ATP检测，其特征是包括以下步骤：1.1设计中空通道纸芯片的疏水蜡打印区域和亲水工作区域；1.2通过蜡打印机将步骤1.1中设计的纸芯片打印上疏水图案；1.3将步骤1.2中得到的纸芯片于60‑150 ºC下加热1‑2分钟，使蜡融化，形成疏水层；1.4将步骤1.3中得到的纸芯片放于激光切割机上，将灰色区域切掉，形成孔洞；1.5在步骤1.4中得到的纸芯片的1工作区域上生长三维金银纳米星；1.6 将巯基化的DNA₁‑氮掺杂碳点（DNA₁‑NCDs）固定在步骤1.5所得的纸芯片的工作区域；1.7 将DNA₂‑二氧化铈（DNA₂‑CeO₂）固定在步骤1.6所得的纸芯片的工作区域；1.8 将步骤1.7所得的纸芯片放入荧光设备中，在激发波长390 nm和发射波长462 nm下进行精确荧光测定；1.9如附图2所示，将步骤1.7所得的纸芯片按箭头方向折叠，在2工作区域上滴加过氧化氢，进行可视化比色测定。