发明名称 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
摘要 본 발명은 불순물 확산 성분을 포함하는 확산제 조성물을 반도체 기판 상에 도포한 후, 형성된 도포막을 가열하여 반도체 기판 중에 불순물 확산 성분을 확산시키는 반도체 기판의 제조 방법으로서, 나노 스케일 막 두께로의 확산제 조성물의 도포와 단시간 열처리에 의해서, 반도체 기판 중에 불순물 확산 성분을 양호하게 확산시킬 수 있는 반도체 기판의 제조 방법을 제공하는 것이다. 확산제 조성물로서 불순물 확산 성분(A)과 이소시아네이트기를 가지는 소정 구조의 Si화합물(B)을 포함하는 조성물을 이용하는 경우에 확산제 조성물을 30 nm이하의 막 두께로 반도체 기판 상에 도포하면서 확산제 조성물의 도포막을 소정의 방법에 의해 단시간 가열한다.
申请公布号 KR20160118970(A) 申请公布日期 2016.10.12
申请号 KR20160040017 申请日期 2016.04.01
申请人 TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD. 发明人 SAWADA YOSHIHIRO
分类号 H01L21/225;H01L21/02;H01L21/324;H01L21/477 主分类号 H01L21/225
代理机构 代理人
主权项
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