发明名称 X METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING DEGREE OF VACUUM OF X-RAY SOURCE
摘要 본 발명은 제조된 X선 소스의 진공도를 측정하기 위한 진공도 측정방법 및 진공도 측정장치에 관한 것으로서, 캐소드와 애노드를 포함하는 X선 소스의 캐소드와 애노드에 연결되는 전원과; 상기 애노드에 연결된 이온측정기를 포함하는 X선 소스의 진공도 측정장치와, (S10) 이온 농도와 진공도 간 관계를 인덱싱하는 단계; (S20) X선 소스의 이온농도를 측정하고, 상기 이온 농도와 진공도 간 관계로 상기 X선 소스의 진공도를 산출하는 진공도 측정단계를 포함하는 X선 소스의 진공도 측정방법을 제공한다.
申请公布号 KR20160118613(A) 申请公布日期 2016.10.12
申请号 KR20150046994 申请日期 2015.04.02
申请人 VATECH CO., LTD.;VATECH EWOO HOLDINGS CO., LTD. 发明人 YOE, SEUNG MIN
分类号 G01L21/30;G01L21/36;H01J35/16 主分类号 G01L21/30
代理机构 代理人
主权项
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