发明名称 |
X METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING DEGREE OF VACUUM OF X-RAY SOURCE |
摘要 |
본 발명은 제조된 X선 소스의 진공도를 측정하기 위한 진공도 측정방법 및 진공도 측정장치에 관한 것으로서, 캐소드와 애노드를 포함하는 X선 소스의 캐소드와 애노드에 연결되는 전원과; 상기 애노드에 연결된 이온측정기를 포함하는 X선 소스의 진공도 측정장치와, (S10) 이온 농도와 진공도 간 관계를 인덱싱하는 단계; (S20) X선 소스의 이온농도를 측정하고, 상기 이온 농도와 진공도 간 관계로 상기 X선 소스의 진공도를 산출하는 진공도 측정단계를 포함하는 X선 소스의 진공도 측정방법을 제공한다. |
申请公布号 |
KR20160118613(A) |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
KR20150046994 |
申请日期 |
2015.04.02 |
申请人 |
VATECH CO., LTD.;VATECH EWOO HOLDINGS CO., LTD. |
发明人 |
YOE, SEUNG MIN |
分类号 |
G01L21/30;G01L21/36;H01J35/16 |
主分类号 |
G01L21/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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