发明名称 |
一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法 |
摘要 |
本发明提供一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,包括:在基板上分别制作薄膜晶体管阵列、阵列基板行驱动电路和阵列测试电路;将所述阵列测试电路分别与所述薄膜晶体管阵列和阵列基板行驱动电路连接,并通过所述阵列测试电路对所述薄膜晶体管阵列和阵列基板行驱动电路进行测试;以及完成测试后,切除所述阵列测试电路及其所在的基板区。本发明的制备方法中,在切割形成薄膜晶体管阵列基板之前,就对制备出的薄膜晶体管阵列和阵列基板行驱动电路进行测试,有效避免因将不良的薄膜晶体管阵列基板制成液晶显示器而造成的资源浪费,同时,在对薄膜晶体管阵列基板测试完后,将阵列测试电路切除掉,使得液晶显示器的边框可以做的更窄。 |
申请公布号 |
CN106019672A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201610596679.4 |
申请日期 |
2016.07.26 |
申请人 |
武汉华星光电技术有限公司 |
发明人 |
洪光辉;龚强;陈归 |
分类号 |
G02F1/1333(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/1333(2006.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
黄威 |
主权项 |
一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,包括:在基板上分别制作薄膜晶体管阵列、阵列基板行驱动电路和阵列测试电路;将所述阵列测试电路分别与所述薄膜晶体管阵列和阵列基板行驱动电路连接,并通过所述阵列测试电路对所述薄膜晶体管阵列和阵列基板行驱动电路进行测试;以及完成测试后,切除所述阵列测试电路及其所在的基板区。 |
地址 |
430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 |