| 发明名称 | 用于测量工件的装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于接触光学测量在工件处的几何的特征或者说结构的装置和方法。为了能够没有问题地执行用于实施精确的测量的探测器延长件的准确的取向，提出一种探测器，包括实施为至少按区段地弯曲弹性的探测器延长件(13)连同用于引入容纳部(14)中的固定区段，其具有构造为抗扭件的固定区段(60)。 | ||
| 申请公布号 | CN106030237A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
| 申请号 | CN201480075101.3 | 申请日期 | 2014.12.05 |
| 申请人 | 沃思测量技术股份有限公司 | 发明人 | R.克里斯托弗;I.施密特;B.霍普;S.策勒;M.黑希勒;S.格伦瓦尔德;A.埃特迈尔;S.林茨-迪特里希;M.安德烈斯 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 杨国治;张昱 |
| 主权项 | 接触光学传感器的探测器，包括至少按区段地构造为弯曲弹性的探测器延长件(13)连同用于引入容纳部(14)中的固定区段(60)，其中，所述固定区段是所述探测器延长件的区段或者是容纳探测器延长件的保持件(11、12)的区段，其特征在于，所述固定区段(60)构造为抗扭件。 | ||
| 地址 | 德国吉森 | ||