一种电路板功能测试治具

摘要

本实用新型涉及电路板功能测试技术领域，特别涉及一种电路板功能测试治具，包括有测试连接装置，第一、二、三、四固定板通过连接柱相连接，测试连接装置包括有上针管、测试针、下针管和导线，测试针由针头、上针管柱和下针管柱组成，上针管柱一端穿过上针管的通孔后与针头相固定连接，下针管柱一端依次穿过第二固定板、伸进下针管孔、弹簧孔后固定连接有弹簧，弹簧一端固定设置在弹簧孔的内底面上；导线一端穿过线孔、伸入弹簧孔后与弹簧相固定连接。在使用本实用新型时，定位方便，操作简单，提高了测试效率；降低治具的投入成本，降低电路板功能测试成本。本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

主权项

一种电路板功能测试治具，其特征在于：包括有从上往下设置的第一固定板（1）、第二固定板（2）、第三固定板（3）和第四固定板（4），第一固定板（1）、第二固定板（2）、第三固定板（3）和第四固定板（4）通过连接柱（5）相连接固定，它还包括有若干个测试连接装置，所述测试连接装置包括有上针管（8）、测试针（9）、下针管（11）和导线（12），所述第一固定板（1）表面设置有与上针管（8）相匹配的上针管孔，所述上针管（8）嵌套固定在上针管孔中；所述第四固定板（4）表面设置有与下针管（11）相匹配的下针管孔（3‑1），下针管（11）一端嵌套固定在下针管孔（3‑1），下针管（11）另一端伸出下针管孔（3‑1）外；所述下针管（11）表面沿轴向由上往下依次设置有弹簧孔（11‑1）和线孔（11‑2），所述弹簧孔（11‑1）的内圆直径大于线孔（11‑2）的内圆直径；所述测试针（9）由针头（9‑1）、上针管柱（9‑2）和下针管柱（9‑3）组成，上针管柱（9‑2）一端穿过上针管（8）的通孔后与针头（9‑1）相固定连接，上针管柱（9‑2）另一端与下针管柱（9‑3）相固定连接，下针管柱（9‑3）一端依次穿过第二固定板（2）、伸进下针管孔（3‑1）、弹簧孔（11‑1）后固定连接有弹簧（10），所述弹簧（10）一端固定设置在弹簧孔（11‑1）的内底面上；导线（12）一端穿过线孔（11‑2）、伸入弹簧孔（11‑1）后与弹簧（10）相固定连接，针头（9‑1）、上针管柱（9‑2）和下针管柱（9‑3）经一体成型而成。