用于未被编程的OTP存储器阵列的测试单元

摘要

测试单元被包含在一次可编程（OTP）存储器阵列中，从而检测半导体制造偏差，这种制造偏差能产生潜在缺陷的存储器阵列。测试单元与常规OTP单元同时被制造，除了它们的大小在一个尺寸上更小，从而沿该尺寸检测掩膜偏差。任何被制造的不能被编程的测试单元意味着会出现某种程度的制造掩膜偏差并且OTP阵列不应被使用。

主权项

一种一次可编程存储器阵列，包括：多行的未被编程的一次可编程单元，每个未被编程的一次可编程单元具有第一活性区；以及一行的未被编程的测试一次可编程单元，每个未被编程的测试一次可编程单元具有比第一活性区更小的第二活性区。