发明名称 | 用于测量CT扫描层厚度的装置和方法 | ||
摘要 | 本发明提出了一种用于测量CT扫描层厚度的装置和方法。所述装置包括:装置本体,为实体结构;螺旋线,其嵌入在所述装置本体中,与所述装置本体紧密结合。本公开通过对测量装置中内嵌的螺旋线进行投影测量,进而得到扫描层的实际层厚。在测量过程中,测量装置的摆放位置与进床的位置允许有不超过5°的误差,摆放精度要求低。此外,无需多次测量就可以获得实际厚度,而且纵向分辨力远优于现有技术中的三角投影法。 | ||
申请公布号 | CN105997123A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
申请号 | CN201610264442.6 | 申请日期 | 2016.04.26 |
申请人 | 北京市计量检测科学研究院 | 发明人 | 王焕宁;黄艳;赵志华;高春柳;吴锦铁;罗琛 |
分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人 | 孙向民;张清芳 |
主权项 | 一种用于测量CT扫描层厚度的装置,其特征在于,所述装置包括:装置本体,为实体结构;螺旋线,其嵌入在所述装置本体中,与所述装置本体紧密结合。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区安苑东里一区12号 |