| 发明名称 |
SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING INTEGRATED CIRCUIT WITH CONSIDERATION OF PROCESS VARIATIONS |
| 摘要 |
본 개시의 일실시예에 따라 컴퓨팅 시스템 또는 프로세서에 의하여 구현되는 집적 회로를 분석하는 방법은, 공정 변이에 기초하여 제1 네트에 대응하는 복수의 저항치들 및 정전 용량들을 제공하는 단계, 제1 네트에 대응하는 전도성 세그먼트들의 개수를 카운트하는 단계, 및 전도성 세그먼트들의 개수, 복수의 저항치들 및 정전용량들에 기초하여 제1 네트의 코너 저항치 및 코너 정전용량을 계산하는 단계를 포함할 수 있다. |
| 申请公布号 |
KR20160115653(A) |
申请公布日期 |
2016.10.06 |
| 申请号 |
KR20150123198 |
申请日期 |
2015.08.31 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
HA, NA YA;KIM, MOON SU;HOOVER ANDREW;KANG, JONG KU |
| 分类号 |
G06F17/50 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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