发明名称 快速以读代写的存储器纠错方法
摘要 本发明提供一种快速以读代写的存储器纠错方法,主要解决了现有以读代写的存储器纠错方法在处理存在数据屏蔽和不存在数据屏蔽两种不同的工作条件下响应时间差别较大,会对ECC的编码及写入过程造成影响的问题。该快速以读代写的存储器纠错方法,包括1]写使能信号被触发时,不判断是否存在数据屏蔽而直接触发读使能信号;2]若存在数据屏蔽,外部数据未被屏蔽的部分写入存储阵列,然后再通过读出电路传输至ECC进行处理等;该方法减少了tB的时间去进行数据准备,使得能够用于ECC编码的有效数据时间增大,减少了额外电路的使用,降低系统出错的几率。
申请公布号 CN103531246B 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201310537686.3 申请日期 2013.10.31
申请人 西安紫光国芯半导体有限公司 发明人 亚历山大;付妮
分类号 G11C29/42(2006.01)I 主分类号 G11C29/42(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 杨引雪
主权项 一种快速以读代写的存储器纠错方法,其特征在于,包括以下步骤:1]写使能信号被触发时,不判断是否存在数据屏蔽而直接触发读使能信号;2]若存在数据屏蔽,外部数据未被屏蔽的部分写入存储阵列,然后再通过读出电路传输至ECC进行处理;外部数据被屏蔽的部分不写入存储阵列,而在存储阵列中读出与被屏蔽的外部数据对应的数据,然后通过读出电路传输至ECC进行处理;上述外部数据未被屏蔽的部分和被屏蔽的部分的读出电路同步传输;3]若不存在数据屏蔽,外部数据写入存储阵列,然后再通过读出电路传输至ECC进行处理。
地址 710055 陕西省西安市高新6路38号腾飞创新中心A座4层
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