发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要 一种半导体结构及其制造方法,该半导体结构包含硅基板、保护层、焊垫、绝缘层、布线层、导电层、阻隔层与导电结构。硅基板具有镂空区、阶梯结构、尖角结构与相对的第一表面与第二表面。阶梯结构与尖角结构环绕镂空区。阶梯结构具有朝向镂空区且依续连接的第一斜面、第三表面与第二斜面。保护层位于硅基板的第一表面上。焊垫位于保护层中,且从镂空区裸露。绝缘层位于阶梯结构的第一斜面、第三表面、第二斜面与第二表面上及尖角结构上。布线层位于绝缘层上与焊垫上。导电层位于布线层上。阻隔层覆盖阶梯结构与尖角结构。导电结构位于阻隔层的开口中的导电层上。本发明能提升半导体结构的良率,且能提高材料选用的便利性。
申请公布号 CN105990305A 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201510098467.9 申请日期 2015.03.06
申请人 精材科技股份有限公司 发明人 孙唯伦;简玮铭;李柏汉;刘沧宇;何彦仕
分类号 H01L23/498(2006.01)I;H01L21/48(2006.01)I 主分类号 H01L23/498(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种半导体结构,其特征在于,包含:一硅基板,具有一镂空区、一阶梯结构、一尖角结构与相对的一第一表面与一第二表面,其中该阶梯结构与该尖角结构环绕该镂空区,该阶梯结构具有朝向该镂空区且依续连接的一第一斜面、一第三表面与一第二斜面;一保护层,位于该硅基板的该第一表面上;一焊垫,位于该保护层中,且从该镂空区裸露;一绝缘层,位于该阶梯结构的该第一斜面、该第三表面、该第二斜面与该第二表面上及该尖角结构上;一布线层,位于该绝缘层上与该焊垫上;一导电层,位于该布线层上;一阻隔层,覆盖该阶梯结构与该尖角结构,且该阻隔层具有一开口,使该导电层裸露;以及一导电结构,位于该开口中的该导电层上。
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