发明名称 | 磁特性评价方法和磁特性评价设备 | ||
摘要 | 本发明涉及一种磁特性评价方法和磁特性评价设备,该磁特性评价方法包括:评价试样测量过程,其对未磁化的磁体材料形成的评价试样执行电磁感应测量,其中将交变磁场施加到试样上而在试样中产生感应电流并且通过同步检测对感应电流进行检测从而获得同步检测信号;标准样本测量过程,其对多个未磁化的标准试样执行所述电磁感应测量,这些标准试样都以与评价试样大致相同的方式形成;磁特性值测量过程,其对多个标准试样进行磁化并且测量多个标准试样的磁特性;对应过程,其估计关于多个标准试样的同步检测信号与关于多个标准试样的磁特性值之间的关系;以及评价过程,其基于所估计的关系,根据关于评价试样的同步检测信号来估计评价试样的磁特性值。 | ||
申请公布号 | CN105988093A | 申请公布日期 | 2016.10.05 |
申请号 | CN201610170128.1 | 申请日期 | 2016.03.23 |
申请人 | 株式会社大同电子 | 发明人 | 渡边裕之;小原一浩;佐藤孝典 |
分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 顾红霞;顾欣 |
主权项 | 一种磁特性评价方法,包括:评价试样测量过程,其对由未磁化的磁体材料形成的评价试样执行电磁感应测量,在所述电磁感应测量中,通过将交变磁场施加到试样上而在所述试样中产生感应电流并且通过同步检测对所述感应电流进行检测,从而获得同步检测信号;标准试样测量过程,其对多个未磁化的标准试样执行所述电磁感应测量,所述多个标准试样都以与所述评价试样大致相同的方式形成;磁特性值测量过程,其对所述多个标准试样进行磁化并且测量所述多个标准试样的磁特性值;对应过程,其对在所述标准试样测量过程中获得的关于所述多个标准试样的同步检测信号与在所述磁特性值测量过程中获得的关于所述多个标准试样的所述磁特性值之间的关系进行估计;以及评价过程,其基于在所述对应过程中估计出的所述关系,根据在所述评价试样测量过程中获得的关于所述评价试样的同步检测信号来估计所述评价试样的磁特性值。 | ||
地址 | 日本岐阜县 |