| 发明名称 | 干涉测定传感器 | ||
| 摘要 | 提供一种干涉测定传感器和相关方法，具有：感测元件，由此，被测对象在两个波之间引起相对相移；至少一个检测器，其测量两个波之间的干扰信号，并且还包含：相移检测单元，具有干扰信号作为输入并且确定代表相对相移的主值<img file="dest_path_image002.GIF" wi="93" he="30" />的第一测量；以及对比度检测单元，具有干扰信号作为输入用于确定代表两个波之间的互相关的第二测量(A,12),以及还包括用于将第一和第二测量转换为被测对象值（x）的处理单元。 | ||
| 申请公布号 | CN105992934A | 申请公布日期 | 2016.10.05 |
| 申请号 | CN201580009630.8 | 申请日期 | 2015.02.19 |
| 申请人 | ABB 瑞士有限公司 | 发明人 | 顾逊;S.V.马切泽;K.博纳特;A.弗兰克 |
| 分类号 | G01D5/353(2006.01)I;G01D5/26(2006.01)I;G01R15/24(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/353(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 郑浩;姜甜 |
| 主权项 | 一种干涉测定传感器，包括：感测元件(22)，由此，被测对象在经过所述感测元件的两个波之间引起相对相移；至少一个检测器(41、26)，测量所述两个波之间的干扰信号，并且还包括：相移检测单元(31‑1)，其具有所述干扰信号作为输入并且确定代表所述相对相移的主值<img file="dest_path_image002.GIF" wi="96" he="30" />的第一测量；以及对比度检测单元(31‑2)，其具有所述干扰信号作为输入用于确定代表所述两个波之间的互相关的第二测量(A,12),并且还包括用于将所述第一和第二测量转换为被测对象值的处理单元(31)。 | ||
| 地址 | 瑞士巴登 | ||