发明名称 用于断裂韧度的施力点位移和缺口张开位移的测量方法
摘要 本发明涉及用于断裂韧度的施力点位移和缺口张开位移的测量方法;基于面阵电荷藕合器件图像传感器CCD视觉系统,采用非接触测量方法,通过对像素的捕捉得到变形信号,信号通过图像处理和单元处理,并从图像处理软件中读出,得到施力点位移和缺口张开位移。CCD视觉系统包括:镜头、CCD相机、图像处理单元以及图像处理软件。本发明非接触测量方法舍弃了夹式引伸计和弯曲杆的附加结构,通过光学图像和图像处理软件,同时测量施力点位移和缺口张开位移,没有装卡因素和环境因素的影响,更加精确、方便、易于实验操作。同时采样速度快,测量空间范围大,精度较高,实时性能好,内置网络通信易于与计算机连接实现上位机程序的测量。
申请公布号 CN103697823B 申请公布日期 2016.09.28
申请号 CN201310755294.4 申请日期 2013.12.27
申请人 天津大学 发明人 陈旭;张喆;陈刚;李珞;石磊
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 王丽
主权项 用于断裂韧度的施力点位移和缺口张开位移的测量方法;其特征是基于面阵电荷藕合器件图像传感器CCD视觉系统,采用非接触测量方法,通过对像素的捕捉得到变形信号,信号通过图像处理和单元处理,并从图像处理软件中读出,得到施力点位移和缺口张开位移;具体为:采用标准试件做实验,在标记纸上用两个黑色实心圆分别标记在已有裂纹缺口两侧,并对标记位置进行定位;实验时,通过黑白像素捕捉两个圆的边界,计算出实心圆的圆心,可以测出两个圆心之间距离的变化,即为缺口张开位移V<sub>1</sub>;同理,在靠近裂纹扩展方向再标记两个实心圆,同时测出第二组缺口张开位移V<sub>2</sub>,通过公式(1)可计算出试验结束后标记点处移动的净位移V;<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mfrac><mi>V</mi><msub><mi>V</mi><mn>0</mn></msub></mfrac><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>x</mi><mn>2</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>x</mi><mn>1</mn></msub></mrow><msub><mi>x</mi><mn>1</mn></msub></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0001014691000000011.GIF" wi="409" he="133" /></maths>其中,x<sub>1</sub>为试件未变形前标记成像点之间的像素值,x<sub>2</sub>为变形后试件标记成像点之间像素值,V<sub>0</sub>为标记间距离,V为试验结束后标记点处移动的净位移。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号天津大学
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