发明名称 |
一种LED 模组漏电测试方法 |
摘要 |
本发明涉及LED的质量检测技术领域,特别涉及一种LED模组漏电测试方法。该LED模组漏电测试方法包括以下步骤:(1)确定LED模组所用芯片的开启电压;(2)确定LED模组中LED芯片的串并联关系;(3)确定LED模组的最小开启电压;(4)通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压,如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准,否则不符合。本发明方法运用于LED分光设备,解决了LED模组漏电在分光时不能判定的问题,提升了制程效率和产品的可靠性。 |
申请公布号 |
CN105974292A |
申请公布日期 |
2016.09.28 |
申请号 |
CN201610446652.7 |
申请日期 |
2016.06.20 |
申请人 |
刘成 |
发明人 |
朱友华;王鹏;童国树;孙金环 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
济南泉城专利商标事务所 37218 |
代理人 |
张贵宾 |
主权项 |
一种LED 模组漏电测试方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)确定LED 模组所用芯片的开启电压:根据LED 模组所用芯片的规格书确定该芯片的额定电压和开启电压,记录后备用;(2)确定LED 模组中LED芯片的串并联关系:将LED芯片分别进行标记,标记后绘制LED 模组的电路图,根据绘制的电路图判断各LED芯片的串并联关系,记录后备用;(3)确定LED 模组的最小开启电压:将步骤(2)中绘制的电路中的各并联支路分别标号,然后计算各并联支路中串联LED芯片的总电压,所述总电压为同一并联支路中所有LED芯片开启电压的总和;通过计算后得到各个并联支路的开启电压,取其中最小值为最小开启电压;(4)通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压,如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准,否则不符合。 |
地址 |
274300 山东省菏泽市单县经济开发区君子路北段 |