发明名称 |
一种显示液晶模组画面缺陷的方法及系统、液晶显示器 |
摘要 |
本发明提供一种显示液晶模组画面缺陷的方法及系统、液晶显示器,所述方法包括:根据液晶模组的画面缺陷,选择相应的单色画面位图,并编辑所述单色画面位图中的预设像素点的灰度值,使得所述预设像素点的灰度值不同于所述单色画面位图中其他像素点的灰度值,从而生成缺陷画面位图;存储所述缺陷画面位图,并将所述缺陷画面位图导入至所述点灯装置;所述点灯装置读取所述缺陷画面位图,并运行点灯程序,通过所述液晶模组显示所述缺陷画面位图。本发明的显示液晶模组画面缺陷的方法,无需搜集大量含有各类缺陷的液晶模组,也无需大量的培训人员,就可以达到让受训人员准确地了解各类缺陷的形状的目的,大大提高了培训效率,同时降低了培训成本。 |
申请公布号 |
CN105976664A |
申请公布日期 |
2016.09.28 |
申请号 |
CN201610294233.6 |
申请日期 |
2016.05.06 |
申请人 |
武汉华星光电技术有限公司 |
发明人 |
吴纯刚;孙长明;陈长林;李函;钱湾湾;钟仕勇 |
分类号 |
G09B9/00(2006.01)I;G09B25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09B9/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
黄威 |
主权项 |
一种显示液晶模组画面缺陷的方法,该方法用于向受训人员显示液晶模组画面缺陷,其中,所述液晶模组通过点灯装置运行点灯程序来显示画面,其特征在于,所述方法包括:根据液晶模组的画面缺陷,选择相应的单色画面位图,并编辑所述单色画面位图中的预设像素点的灰度值,使得所述预设像素点的灰度值不同于所述单色画面位图中其他像素点的灰度值,从而生成缺陷画面位图;存储所述缺陷画面位图,并将所述缺陷画面位图导入至所述点灯装置;所述点灯装置读取所述缺陷画面位图,并运行点灯程序,通过所述液晶模组显示所述缺陷画面位图。 |
地址 |
430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 |