| 发明名称 | 用于非金属材料缺陷检测的超声波探头 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于非金属材料缺陷检测的超声波探头，包括：外壳、压电陶瓷片和金属片；所述外壳包括顶盖和底壳；所述底壳的一侧设置有出线孔；所述压电陶瓷片设置在顶盖和底壳之间；所述压电陶瓷片的上表面、下表面均为经过镀银以及极化处理后形成的电极；所述压电陶瓷片的上表面与顶盖内壁之间、下表面与底壳内壁之间均设置有金属片；所述金属片上均设置有导线；所述导线从所述出线孔中引出。应用本发明可以使用上述超声波探头对非金属材料结构内部的缺陷进行无损检测。 | ||
| 申请公布号 | CN105973985A | 申请公布日期 | 2016.09.28 |
| 申请号 | CN201610467230.8 | 申请日期 | 2016.06.24 |
| 申请人 | 中冶建筑研究总院有限公司 | 发明人 | 张兴斌;房厦;吴静姝 |
| 分类号 | G01N29/04(2006.01)I;G01N29/24(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人 | 陈攀;王琦 |
| 主权项 | 一种用于非金属材料缺陷检测的超声波探头，其特征在于，包括：外壳、压电陶瓷片和金属片；所述外壳包括顶盖和底壳；所述底壳的一侧设置有出线孔；所述压电陶瓷片设置在顶盖和底壳之间；所述压电陶瓷片的上、下表面均为经过镀银以及极化处理后形成的电极；所述压电陶瓷片的上表面与顶盖内壁之间、下表面与底壳内壁之间均设置有金属片；所述金属片上均设置有导线；所述导线从所述出线孔中引出。 | ||
| 地址 | 100088 北京市海淀区西土城路33号 | ||