发明名称 具有背势垒的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管及制造方法
摘要 本发明公开了一种具有背势垒的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管及制造方法,属于半导体器件制备技术领域。该晶体管自下至上依次包括衬底、成核层、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N缓冲层、未掺杂的GaN沟道层、组分渐变的Al<sub>y</sub>Ga<sub>1‑y</sub>N层、组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层,其中,z≥y,在组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层上沉积欧姆接触金属并进行高温合金形成源电极和漏电极,在组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层上沉积肖特基接触金属并进行高温合金形成栅电极,在源电极与栅电极之间以及栅电极与漏电极之间沉积钝化层。在AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管中的载流子呈准三维分布,器件线性度高,且由于背势垒的存在增强了电子局域性,提高了器件的栅控能力,改善了器件的关断特性。
申请公布号 CN105957881A 申请公布日期 2016.09.21
申请号 CN201610325160.2 申请日期 2016.05.17
申请人 中国电子科技集团公司第十三研究所 发明人 郭艳敏;房玉龙;冯志红;尹甲运;宋旭波;王波;周幸叶;张志荣;王元刚;李佳;顾国栋;芦伟立;高楠
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人 王荣君
主权项 一种具有背势垒的AlGaN/GaN极化掺杂场效应晶体管,其特征在于,自下至上依次包括衬底(1)、成核层(2)、Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N缓冲层(3)、未掺杂的GaN沟道层(4)、组分渐变的Al<sub>y</sub>Ga<sub>1‑y</sub>N层(5)、组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层(6),其中,z≥y;在组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层(6)上沉积欧姆接触金属并进行高温合金形成源电极(7)和漏电极(9),在组分固定的Al<sub>z</sub>Ga<sub>1‑z</sub>N层(6)上沉积肖特基接触金属并进行高温合金形成栅电极(8),在源电极(7)与栅电极(8)之间以及栅电极(8)与漏电极(9)之间沉积钝化层(10)。
地址 050051 河北省石家庄市合作路113号