发明名称 放射线摄影装置
摘要 具备第一/第二累计值计算部(33、38),该第一/第二累计值计算部(33、38)在由栅格箔产生的箔影横跨像素的部位,基于几何结构鉴别该部位,并求出所鉴别出的该部位的基于箔影的横跨累计值。即使设为由栅格箔产生的箔影由于栅格箔的扭曲、挠曲而横跨了像素,也基于几何结构鉴别该部位,并求出所鉴别出的该部位的箔影的横跨累计值,因此即使设为X射线栅格、平板型X射线检测器(FPD)(3)的尺寸发生变化,也基于该横跨累计值去除箔影。其结果,能够与各种尺寸的X射线栅格、FPD(3)相对应地考虑栅格箔的扭曲、挠曲来去除箔影。
申请公布号 CN104203106B 申请公布日期 2016.09.14
申请号 CN201280071636.4 申请日期 2012.03.21
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 及川四郎
分类号 A61B6/06(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/06(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种放射线摄影装置,获得放射线图像,其特征在于,具备:放射线源,其照射放射线;放射线检测单元,其检测所照射的放射线;以及放射线栅格,其设置于该放射线检测单元的检测侧,通过排列用于吸收散射放射线的栅格箔而构成,上述放射线摄影装置还具备:累计值计算单元,其在由上述栅格箔产生的箔影横跨像素的部位,基于上述放射线源、上述放射线检测单元以及上述放射线栅格的相互的几何位置关系来鉴别该部位,并求出所鉴别出的该部位的基于箔影的横跨累计值;摄影图像收集单元,其基于在有被检体的状态下检测出的放射线检测信号来收集实际的摄影图像;以及挠曲常数计算单元,其在由上述栅格箔产生的箔影横跨像素的部位求出挠曲常数,该挠曲常数是与上述栅格箔的挠曲有关的常数,其中,基于上述累计值计算单元、上述挠曲常数计算单元以及上述摄影图像收集单元来去除由上述栅格箔产生的箔影并最终获得放射线图像。
地址 日本京都府