发明名称 一种通用的印刷电路板可靠性指标快速分析方法
摘要 本发明公开的通用的印刷电路板可靠性指标快速分析方法,其步骤包括:建立电子元器件可靠性特征参数分布模型;通过调用接口函数得到印刷电路板的电子元器件清单;汇编印刷电路板的电子元器件详细清单;根据印刷电路板的电子元器件可靠性特征参数分布模型与电子元器件详细清单,得到包含所有电子元器件的通用失效率参数的表格清单;计算得到印刷电路板在使用环境下的失效率;根据印刷电路板在使用环境下的失效率,计算电路板的系统可靠度,系统不可靠度,系统平均无故障寿命。本发明对电路板的设计具有指导意义,实现了电路板设计与可靠性分析之间的连续性,方便用户实现电路板设计与可靠性分析的交叉进行,从而提高电路板设计的效率。
申请公布号 CN103902770B 申请公布日期 2016.09.14
申请号 CN201410119251.1 申请日期 2014.03.27
申请人 浙江大学 发明人 杨灿军;冯建设;李德骏;张志峰;张锋;王晨
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 韩介梅
主权项 一种通用的印刷电路板可靠性指标快速分析方法,其步骤如下:步骤1:建立电子元器件可靠性性特征参数分布模型:以中国军方电子设备可靠性预计手册GJB/Z299C‑2006失效率计算公式为依据建立电子元器件可靠性特征参数分布模型;所说的电子元器件包括电阻、电容、开关、继电器、电感、熔断器和断路器的基本电路组件,二极管、晶体管和半导体晶闸管的半导体元器件,发光二极管、关敏电阻、光电二极管、光电晶体管、光电晶闸管和光电耦合器的光电子元件以及运算放大器和半导体微电路;步骤2:编写接口程序,导入电路板的PCB工程文件,通过调用编写的接口函数直接从后台打开印刷电路板软件Altium Designer 09,然后导出该电路板的电子元器件清单,该清单包括了以下数据:电子元器件名称、标号、规格、型号、数量,该清单是以.xls为后缀的EXCEL电子表格文件;步骤3:基于EXCEL VBA开发独立宏,该宏加载成功后,在EXCEL菜单栏显示专用工具栏以及数据录入向导,采用自动输入方式输入电路板上所有电子元器件的种类及每类电子元器件的数量,采用手动输入方式输入特征参数分布模型中所不包含的电子元器件的种类和数量、电路板上所有电子元器件的质量等级与质量系数以及电路板设备的应用环境类别信息,该数据录入向导是通过EXCEL下的VLOOKUP函数与MATCH函数实现的,通过查找关键字实现对电子元器件从类型、规格到数量的逐级匹配与录入,汇编得到电子元器件的详细清单;步骤4:按步骤1中所建立的各类电子元器件可靠性特征参数分布模型,计算各电子元器件在使用环境下的通用失效率λ<sub>i</sub>,得到包含所有电子元器件通用失效率参数λ<sub>i</sub>的表格清单,λ<sub>i</sub>是第i种电子元器件在使用环境下的通用失效率;步骤5:根据步骤3汇编得到电子元器件的详细清单和步骤4所得的包含所有电子元器件通用失效率参数λ<sub>i</sub>的表格清单,通过公式(1)计算,得到印刷电路板在使用环境下的通用失效率λ,其公式如式(1):<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>&lambda;</mi><mo>=</mo><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><msub><mi>N</mi><mi>i</mi></msub><msub><mi>&lambda;</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0001018473910000011.GIF" wi="1054" he="126" /></maths>式中:λ<sub>i</sub>——第i种电子元器件在使用环境下的通用失效率;N<sub>i</sub>——第i种电子元器件的数量;n——电路板上的电子元器件种类数目;步骤6:根据步骤5得到的印刷电路板在使用环境下的通用失效率λ,得到印刷电路板的系统可靠度R<sub>s</sub>=e<sup>‑λt</sup>,系统不可靠度F<sub>s</sub>=1‑e<sup>‑λt</sup>,生成由这些参数得到的印刷电路板可靠度分布曲线与不可靠度分布曲线,计算步进电机驱动电路印刷电路板的平均无故障寿命MTBF=1/λ,将数据存档,分析完毕。
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