发明名称 一种简易的电子元件表面缺陷检测装置
摘要 本实用新型一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能更直观的检查电子元件的表面情况的电子元件表面缺陷检测装置。包括支座和放大镜,所述放大镜可拆卸安装于支座;在放大镜下方设有电子元件成像装置,所述电子元件成像装置包括与支座可拆卸连接的本体,在本体上设有垂直贯穿本体的方形通孔,所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜,所述平面镜的镜面由下至上向外延伸;在通孔正下方设有安装于支座的平台。该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置能更直观的检测电子元件的表面情况,提高了观察的准确性,且该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置结构简单,使用方便。
申请公布号 CN205581018U 申请公布日期 2016.09.14
申请号 CN201620413588.8 申请日期 2016.05.09
申请人 成都慧信实验设备有限公司 发明人 廖兴旺
分类号 G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人 何强
主权项 一种简易的电子元件表面缺陷检测装置,其特征在于:包括支座(1)和放大镜(2),所述放大镜(2)可拆卸安装于支座(1);在放大镜(2)下方设有电子元件成像装置,所述电子元件成像装置包括与支座(1)可拆卸连接的本体(3),在本体(3)上设有垂直贯穿本体(3)的方形通孔(4),所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5),所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的平台(6)。
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