发明名称 TEST CHAMBER FOR EMC MEASURING TESTING
摘要 Die Erfindung betrifft eine Prüfkammer (1) für die EMV-Meßprüfung sowie ein Verfahren zur Validierung und ein Verfahren zur Durchführung von EMV-Meßprüfungen in einer solchen Prüfkammer (1). Um die Validierung einer EMV-Prüfkammer (1) sowie die Durchführung unterschiedlicher EMV-Meßprüfverfahren in einer einzigen Prüfkammer (1) zu vereinfachen, wird eine Prüfkammer (1) für die EMV-Meßprüfung vorgeschlagen, die zur Durchführung unterschiedlicher EMV-Meßprüfverfahren durch Bereitstellung mehrerer Meßanordnungen (13, 14, 15) mit unterschiedlichen Meßachsen (16, 17, 18) ausgebildet ist, in der mehrere Antennen (31, 32, 33, 34) gleichzeitig angeordnet sind, wobei jede dieser Antennen (31, 32, 33, 34) jeweils mindestens einem der Meßprüfverfahren zugeordnet ist und wobei jede dieser Antennen (31, 32, 33, 34) zur Bereitstellung der Meßanordnung (13, 14, 15) für das jeweilige Meßprüfverfahren von einer Ruheposition (41, 42, 43, 44) in eine dieser Meßanordnung (13, 14, 15) zugeordnete Meßposition (24, 25, 26, 27, 28) und zurück bewegbar ist.
申请公布号 EP3064950(A1) 申请公布日期 2016.09.07
申请号 EP20160000428 申请日期 2016.02.22
申请人 OPITZ, WOLFGANG 发明人 OPITZ, WOLFGANG
分类号 G01R29/08;G01R31/00 主分类号 G01R29/08
代理机构 代理人
主权项
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