发明名称 |
用于估算晶体管的温度的方法 |
摘要 |
检测器测量晶体管的集电极和发射极之间的相对于时间变化的关断电压变化,和晶体管在集电极处的峰值电压。基于关断电压变化和峰值电压,电子数据处理器确定关断电流、开启电流和开态电压降的中间参数。基于晶体管的集电极和发射极之间的关断电流、开启电流和开态电压降,数据处理器确定晶体管在一个开关循环内的功率损耗或能量损耗。数据处理器估算晶体管在开关循环内的相关联的平均管芯温度。 |
申请公布号 |
CN105928631A |
申请公布日期 |
2016.09.07 |
申请号 |
CN201610108069.5 |
申请日期 |
2016.02.26 |
申请人 |
迪尔公司 |
发明人 |
布立基·N·僧伽 |
分类号 |
G01K3/04(2006.01)I;G01K13/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01K3/04(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汪洋 |
主权项 |
一种用于估算晶体管的结温或管芯温度的方法,所述方法包括下述步骤:测量逆变器的相中的晶体管的集电极和发射极之间的相对于时间变化的关断电压变化;测量晶体管的集电极和发射极之间的峰值电压;基于关断电压变化和峰值电压,确定关断电流、开启电流和开态电压降的中间参数;基于晶体管的集电极和发射极之间的关断电流、开启电流和开态电压降,确定晶体管的一个开关循环内的功率损耗或能量损耗;以及基于已确定的能量损耗、观察到的逆变器系统温度和逆变器系统的热特性,估算晶体管在开关循环内的相关联的平均结温或管芯温度。 |
地址 |
美国伊利诺伊州 |