| 发明名称 | 一种高速信号隔离装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种高速信号隔离测试装置，包括：芯片输出装置、集成负载、测试机。所述测试机，包括测试传输线和电压探头电阻；所述测试传输线指的是从所述芯片输出装置的输出端到所述电压探头电阻的一端之间的传输线；所述集成负载，包括负载电容、隔离/负载电阻；所述隔离/负载电阻，接于所述芯片输出装置的输出端与所述测试传输线之间；所述负载电容的一端接于所述芯片输出装置的输出端与所述隔离/负载电阻之间，使用本发明可有效解决由测试机导致的异常大电流现象，鼓包现象得到明显改善。 | ||
| 申请公布号 | CN105929317A | 申请公布日期 | 2016.09.07 |
| 申请号 | CN201610225303.2 | 申请日期 | 2016.04.12 |
| 申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 曾传滨;张晴;倪涛;罗家俊;韩郑生 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人 | 房德权 |
| 主权项 | 一种高速信号隔离装置，其特征在于，包括：芯片输出装置、集成负载、测试机；所述测试机，包括测试传输线和电压探头电阻；所述测试传输线指的是从所述芯片输出装置的输出端到所述电压探头电阻的一端之间的传输线；所述集成负载，包括负载电容、隔离/负载电阻；所述隔离/负载电阻，接于所述芯片输出装置的输出端与所述测试传输线之间；所述负载电容的一端接于所述芯片输出装置的输出端与所述隔离/负载电阻之间。 | ||
| 地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 | ||