| 摘要 |
Verfahren zum Durchführen einer Dickenmessung an bandförmigen Materialien und an Stückgütern (10), die für deren Dickenmessung in einer in der yz-Ebene eines rechtwinkligen xyz-Koordinatensystems liegenden Messebene (11) zwischen mindestens zwei Messköpfen (6, 8) positioniert werden, wobei die mindestens zwei Messköpfe (6, 8) jeweils an einem von mindestens zwei Tragarmen (3, 4), die Teil einer Tragestruktur (2) sind und die über mindestens eine Quertraverse (5) miteinander verbunden sind, in einer gegenüber liegenden Anordnung gehalten und positioniert sind, wobei der eine Messkopf (6) auf die Messebene (11) entgegen der x-Richtung gerichtete Messstrahlen (6') abgibt und der andere Messkopf (8) in x-Richtung auf die Messebene (11) gerichtete Messstrahlen (8') abgibt, dadurch gekennzeichnet, dass durch äußere Einflüsse hervorgerufene Änderungen des Abstands der Tragarme (3, 4) zueinander durch Änderungen der Länge der Quertraverse (5) über eine Abstandsmessung des Abstands von mindestens einem weiteren Messkopf (16; 17), der im Bereich des einen Endes der Quertraverse (5) angeordnet ist, zu einer in der yz-Ebene des rechtwinkligen xyz-Koordinatensystems liegenden Bezugsebene (18), die mit der Quertraverse (5) verbunden ist, erfasst werden und dass daraus mindestens ein Korrekturwert für die Dickenmessung der mindestens zwei Messköpfe (6, 8) an den bandförmigen Materialien oder an den Stückgütern abgeleitet wird. |
