发明名称 Manufacturing method of semiconductor device
摘要 반도체 소자 제조 방법이 개시되어 있다. 개시된 반도체 소자 제조 방법에 따르면, 준비된 기판 상에 제1마스크층을 형성하고, 제1마스크층 상에 제1마스크층보다 에칭율이 낮은 제2마스크층을 형성한다. 제1 및 제2마스크층을 패터닝하여 제1 및 제2마스크층이 제거된 개구 영역이 존재하는 패턴 구조를 형성한다. 그리고 에칭 공정을 통해 제1마스크층을 오버에칭시켜, 제2마스크층이 제1마스크층보다 큰 폭을 가지는 오버행 구조로 형성하여, 제2마스크층과 기판 사이에 빈 공간이 생기도록 한다. 그런 다음, 개구 영역에 하부 버퍼층을 형성하고, 이 하부 버퍼층 상에 하부 버퍼층 및 제2마스크층을 덮도록 상부 버퍼층을 형성한다. 상부 버퍼층 상에 반도체 소자의 주요층 구조를 형성한 다음, 화학적 에칭을 이용하여 기판을 제거한다.
申请公布号 KR101652791(B1) 申请公布日期 2016.08.31
申请号 KR20100106029 申请日期 2010.10.28
申请人 삼성전자주식회사 发明人 이상문
分类号 H01L33/02;H01L33/12 主分类号 H01L33/02
代理机构 代理人
主权项
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