发明名称 一种光热弱吸收测试系统
摘要 本实用新型提供了一种光热弱吸收测试系统,应用于光学元件的吸收缺陷测试领域,所述光热弱吸收测试系统包括离轴抛物镜、样品台、探测器、探测光源以及多个泵浦光源,所述多个泵浦光源发出的泵浦光的波长不尽相同;所述多个泵浦光源分别发出的泵浦光经所述离轴抛物镜反射后均聚焦到安装在样品台上的待测样品的预设待测点处,所述探测光源发出的探测光也聚焦到所述待测样品的预设待测点处,透过所述待测样品的探测光进入所述探测器,从而得到所述待测样品对所述多个泵浦光源分别发出的泵浦光的吸收。本实用新型实施例提供的光热弱吸收测试系统有效地实现了多个波长的泵浦激光共同作用时光学材料表面、亚表面及光学膜层的微弱吸收测试。
申请公布号 CN205538714U 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201620162935.4 申请日期 2016.03.03
申请人 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 发明人 王凤蕊;刘红婕;李青芝;黄进;耿锋;孙来喜;蒋晓东;叶鑫;周晓燕
分类号 G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人 吴开磊
主权项 一种光热弱吸收测试系统,其特征在于,包括:离轴抛物镜、样品台、探测器、探测光源以及多个泵浦光源,待测样品安装在所述样品台上,所述多个泵浦光源发出的泵浦光的波长不尽相同;所述多个泵浦光源分别发出的泵浦光经所述离轴抛物镜反射后均聚焦到所述待测样品的预设待测点处,所述探测光源发出的探测光也聚焦到所述待测样品的预设待测点处,透过所述待测样品的探测光进入所述探测器。
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